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连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理

盛良 张震 张检民 左浩毅

盛良, 张震, 张检民, 左浩毅. 连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(6): 606004-0606004(4). doi: 10.3788/IRLA201645.0606004
引用本文: 盛良, 张震, 张检民, 左浩毅. 连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理[J]. 红外与激光工程, 2016, 45(6): 606004-0606004(4). doi: 10.3788/IRLA201645.0606004
Sheng Liang, Zhang Zhen, Zhang Jianmin, Zuo Haoyi. Pixel upset effect and mechanism of CW laser irradiated CMOS camera[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(6): 606004-0606004(4). doi: 10.3788/IRLA201645.0606004
Citation: Sheng Liang, Zhang Zhen, Zhang Jianmin, Zuo Haoyi. Pixel upset effect and mechanism of CW laser irradiated CMOS camera[J]. Infrared and Laser Engineering, 2016, 45(6): 606004-0606004(4). doi: 10.3788/IRLA201645.0606004

连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理

doi: 10.3788/IRLA201645.0606004
基金项目: 

西北核技术研究所长线预研基金;西北核技术研究所预研项目(12111502,SKLlIM1401Z)

详细信息
    作者简介:

    盛良(1982-),男,工程师,硕士生,主要从事激光光学方面的研究。Email:shengliang11@nint.ac.cn

  • 中图分类号: TN249

Pixel upset effect and mechanism of CW laser irradiated CMOS camera

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出版历程
  • 收稿日期:  2015-10-01
  • 修回日期:  2015-11-03
  • 刊出日期:  2016-06-25

连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理

doi: 10.3788/IRLA201645.0606004
    作者简介:

    盛良(1982-),男,工程师,硕士生,主要从事激光光学方面的研究。Email:shengliang11@nint.ac.cn

基金项目:

西北核技术研究所长线预研基金;西北核技术研究所预研项目(12111502,SKLlIM1401Z)

  • 中图分类号: TN249

摘要: 为了研究激光对CMOS图像传感器的干扰效果,利用632.8 nm连续激光开展了对CMOS相机的饱和干扰实验。随着入射激光功率的增加,分别观察到未饱和、饱和、全屏饱和等现象,并发现,在全屏饱和前,功率密度达到1.4 W/cm2后,光斑强区中心区域出现了像素翻转效应。进一步加大光敏面激光功率密度到95.1 W/cm2,激光作用停止后相机仍能正常成像,证明像素翻转效应并非源自硬损伤。基于CMOS相机芯片的结构和数据采集处理过程进行了机理分析,认为强光辐照产生的过量光生载流子使得光电二极管电容上原来充满的电荷被快速释放,使得相关双采样中的两次采样所得信号Vreset与Vsignal逐渐接近,是输出像素翻转的一种可能原因。

English Abstract

参考文献 (9)

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