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超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究

王景楠 聂劲松

王景楠, 聂劲松. 超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(1): 106004-0106004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0106004
引用本文: 王景楠, 聂劲松. 超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(1): 106004-0106004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0106004
Wang Jingnan, Nie Jinsong. Experimental study on supercontinuum laser irradiating a visible light CMOS imaging sensor[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(1): 106004-0106004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0106004
Citation: Wang Jingnan, Nie Jinsong. Experimental study on supercontinuum laser irradiating a visible light CMOS imaging sensor[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(1): 106004-0106004(6). doi: 10.3788/IRLA201746.0106004

超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究

doi: 10.3788/IRLA201746.0106004
基金项目: 

脉冲功率激光技术国家重点实验室基金(SKL2014ZR09)

详细信息
    作者简介:

    王景楠(1990-),男,硕士生,主要从事超连续谱方面的研究。Email:q2214693@126.com

  • 中图分类号: TN249

Experimental study on supercontinuum laser irradiating a visible light CMOS imaging sensor

  • 摘要: 研究了超连续谱光源对可见光CMOS图像传感器辐照的实验现象和规律。观察到随着入射激光功率的不断增大,CMOS图像传感器依次出现了像元饱和、局部饱和、局部过饱和以及全屏饱和等现象。与1 060 nm锁模光纤激光辐照同种图像传感器的实验相对比,从有效干扰面积、图像相关度及图像均方差等三个方面,对比了两种干扰源在影响CMOS图像传感器成像质量方面的异同,发现CMOS图像传感器的响应特性、激光的频谱特性和成像光学系统的色散是导致干扰效果差异的主要原因。
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-05-11
  • 修回日期:  2016-06-21
  • 刊出日期:  2017-01-25

超连续谱光源辐照可见光CMOS图像传感器的实验研究

doi: 10.3788/IRLA201746.0106004
    作者简介:

    王景楠(1990-),男,硕士生,主要从事超连续谱方面的研究。Email:q2214693@126.com

基金项目:

脉冲功率激光技术国家重点实验室基金(SKL2014ZR09)

  • 中图分类号: TN249

摘要: 研究了超连续谱光源对可见光CMOS图像传感器辐照的实验现象和规律。观察到随着入射激光功率的不断增大,CMOS图像传感器依次出现了像元饱和、局部饱和、局部过饱和以及全屏饱和等现象。与1 060 nm锁模光纤激光辐照同种图像传感器的实验相对比,从有效干扰面积、图像相关度及图像均方差等三个方面,对比了两种干扰源在影响CMOS图像传感器成像质量方面的异同,发现CMOS图像传感器的响应特性、激光的频谱特性和成像光学系统的色散是导致干扰效果差异的主要原因。

English Abstract

参考文献 (16)

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