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红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法

王多书 李佑路 李凯朋 王济洲 董茂进

王多书, 李佑路, 李凯朋, 王济洲, 董茂进. 红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法[J]. 红外与激光工程, 2018, 47(4): 404006-0404006(5). doi: 10.3788/IRLA201847.0404006
引用本文: 王多书, 李佑路, 李凯朋, 王济洲, 董茂进. 红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法[J]. 红外与激光工程, 2018, 47(4): 404006-0404006(5). doi: 10.3788/IRLA201847.0404006
Wang Duoshu, Li Youlu, Li Kaipeng, Wang Jizhou, Dong Maojin. Research method of the temperature characteristic of infrared thin-films[J]. Infrared and Laser Engineering, 2018, 47(4): 404006-0404006(5). doi: 10.3788/IRLA201847.0404006
Citation: Wang Duoshu, Li Youlu, Li Kaipeng, Wang Jizhou, Dong Maojin. Research method of the temperature characteristic of infrared thin-films[J]. Infrared and Laser Engineering, 2018, 47(4): 404006-0404006(5). doi: 10.3788/IRLA201847.0404006

红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法

doi: 10.3788/IRLA201847.0404006
详细信息
    作者简介:

    王多书(1973-),男,研究员,博士,主要从事空间光学薄膜技术方面的研究。Email:wang_d_s@163.com

  • 中图分类号: O439

Research method of the temperature characteristic of infrared thin-films

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出版历程
  • 收稿日期:  2017-11-05
  • 修回日期:  2017-12-03
  • 刊出日期:  2018-04-25

红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法

doi: 10.3788/IRLA201847.0404006
    作者简介:

    王多书(1973-),男,研究员,博士,主要从事空间光学薄膜技术方面的研究。Email:wang_d_s@163.com

  • 中图分类号: O439

摘要: 红外光学系统中靠近探测器的光学元件通常处于低温环境中,低温环境会使得光学元件表面薄膜的透射光谱发生漂移,进而严重影响红外光学系统的成像质量。研究发现光谱漂移是由于系统中红外光学薄膜的折射率发生了改变。论文针对红外光学薄膜材料折射率温度特性开展了研究,在光学薄膜理论基础上,通过分析几种波长色散模型的特点,提出了一种红外光学薄膜材料折射率温度特性的研究方法。该方法基于不同温度测得的透射率光谱,通过光谱反演得到不同温度条件下光学薄膜材料的折射率,并在Cauchy色散模型的基础上,通过数据拟合分析,能够得到红外光学薄膜材料的折射率温度/波长色散公式。采用该方法对PbTe、Ge两种典型红外光学薄膜材料折射率温度特性进行了分析研究,验证了该方法的可行性。

English Abstract

参考文献 (9)

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