基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

聂志强; 王明培; 孙玉博; 李小宁; 吴迪

doi:10.3788/IRLA201948.S105003

基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

doi: 10.3788/IRLA201948.S105003

1.
中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室,陕西西安 710119;
2.
中国科学院大学,北京 100049;
3.
西安炬光科技股份有限公司,陕西西安 710077

基金项目:

国家自然科学基金（61334010）

详细信息

作者简介:
聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

中图分类号: TN248.4

High power semiconductor laser lifetime prediction and failure analysis based on Weibull and Log-normal distribution

1.
State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics,Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi'an 710119,China;
2.
University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;
3.
Focuslight Technologies Inc.,Xi'an 710077,China

摘要: 分别采用韦布尔分布和对数分布模型对额定功率60 W（CW条件下）的808 nm铟焊料封装的传导冷却型单巴高功率半导体激光器在恒定电流条件下进行的三个不同温度的加速老化试验数据进行分析并估计了常温下的寿命。在韦布尔分布统计分析中计算了各温度下器件的特征寿命和统计平均寿命，发现早期失效情况下形状参数小于1且数学平均寿命的计算方法误差加大，不如使用统计平均的方法。在对数分布统计分析中计算了各温度下器件的中位寿命和统计平均寿命，发现早期失效下的对数标准差较大且影响统计平均寿命的计算，这种情况不适合用对数正态分布估计寿命。最后对不同时期的加速寿命器件进行了失效分析。
- 高功率半导体激光器 /
- 热加速老化试验 /
- 韦布尔分布 /
- 对数正态分布 /
- 失效分析
Abstract: The accelerated aging test of 60 W(CW mode) 808 nm indium-packaged conductively cooled single bar high power semiconductor laser with constant current under three different temperatures was analyzed by Weibull and Log-normal distributions models, respectively. The characteristic lifetime and statistical average lifetime of the device under all the tempertures including room temperature were calculated in Weibull distribution analysis, and it is found that for early failure test, the shape parameter is less than 1, and the calculation error of mathematical average lifetime is larger, which is not as good as statistical average lifetime. In Log-normal distribution analysis, the medium lifetime and statistical average lifetime under all the tempertures are calculated. It is found that for early failure test, the logarithmic standard deviation is larger and creates larger error of statistical average lifetime. It means that Log-normal distribution mode is not suitable for lifetime estimation of early failure device. Finally failure analysis of accelerated lifetime devices is carried out.
- high power semiconductor laser /
- thermally accelerated ageing test /
- Weibull distribution /
- Log-normal distribution /
- failure analysis

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基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

doi: 10.3788/IRLA201948.S105003

作者简介:
聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

High power semiconductor laser lifetime prediction and failure analysis based on Weibull and Log-normal distribution

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基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

doi: 10.3788/IRLA201948.S105003

1. 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室,陕西西安 710119;

2. 中国科学院大学,北京 100049;

3. 西安炬光科技股份有限公司,陕西西安 710077

作者简介:
聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

English Abstract

High power semiconductor laser lifetime prediction and failure analysis based on Weibull and Log-normal distribution

1. State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics,Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi'an 710119,China;

2. University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;

3. Focuslight Technologies Inc.,Xi'an 710077,China

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作者简介: 聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

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基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究

doi: 10.3788/IRLA201948.S105003

1. 中国科学院西安光学精密机械研究所 瞬态光学与光子技术国家重点试验室,陕西 西安 710119; 2. 中国科学院大学,北京 100049; 3. 西安炬光科技股份有限公司,陕西 西安 710077

作者简介: 聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

English Abstract

High power semiconductor laser lifetime prediction and failure analysis based on Weibull and Log-normal distribution

1. State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics,Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi'an 710119,China; 2. University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China; 3. Focuslight Technologies Inc.,Xi'an 710077,China

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作者简介:
聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

1. 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室,陕西西安 710119;

2. 中国科学院大学,北京 100049;

3. 西安炬光科技股份有限公司,陕西西安 710077

作者简介:
聂志强(1982-),男,副研究员,主要从事高功率半导体激光器封装方面的研究。Email:niezq@opt.ac.cn

1. State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics,Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi'an 710119,China;

2. University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;

3. Focuslight Technologies Inc.,Xi'an 710077,China