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高性能低噪声数字读出电路

姚立斌 陈楠

姚立斌, 陈楠. 高性能低噪声数字读出电路[J]. 红外与激光工程, 2020, 49(1): 0103009-0103009(10). doi: 10.3788/IRLA202049.0103009
引用本文: 姚立斌, 陈楠. 高性能低噪声数字读出电路[J]. 红外与激光工程, 2020, 49(1): 0103009-0103009(10). doi: 10.3788/IRLA202049.0103009
Yao Libin, Chen Nan. High-performance low noise digital readout circuit[J]. Infrared and Laser Engineering, 2020, 49(1): 0103009-0103009(10). doi: 10.3788/IRLA202049.0103009
Citation: Yao Libin, Chen Nan. High-performance low noise digital readout circuit[J]. Infrared and Laser Engineering, 2020, 49(1): 0103009-0103009(10). doi: 10.3788/IRLA202049.0103009

高性能低噪声数字读出电路

doi: 10.3788/IRLA202049.0103009
详细信息
    作者简介:

    姚立斌(1968-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事混合信号集成电路设计方面的研究。Email:libin.yao@gmail.com

  • 中图分类号: TN216

High-performance low noise digital readout circuit

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出版历程
  • 收稿日期:  2019-11-01
  • 修回日期:  2019-11-13

高性能低噪声数字读出电路

doi: 10.3788/IRLA202049.0103009
    作者简介:

    姚立斌(1968-),男,研究员,博士生导师,博士,主要从事混合信号集成电路设计方面的研究。Email:libin.yao@gmail.com

  • 中图分类号: TN216

摘要: 红外焦平面的数字读出是信息化发展的必然方向,其关键技术是数字读出电路。介绍了数字读出电路的发展现状和主要架构,重点分析了时间噪声和空间噪声的来源和影响,并给出低噪声设计指导。同时对线性度、动态范围和帧频等主要性能进行了讨论,设计了两款数字读出电路。采用列级ADC数字读出架构设计了640×512数字焦平面探测器读出电路,读出噪声测试结果为150 μV,互连中波探测器测试NETD为13 mK。基于数字像元读出架构设计了384×288数字焦平面探测器读出电路,互连长波探测器测试NETD小于4 mK,动态范围超过90 dB,帧频达到1 000 Hz。所设计的两款读出电路有效提升了红外焦平面的灵敏度、动态范围和帧频等性能,表明数字读出电路技术对红外探测器性能的提升具有重要作用。

English Abstract

参考文献 (9)

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