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SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究

郑晓云 王绍举

郑晓云, 王绍举. SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究[J]. 红外与激光工程, 2014, 43(S1): 164-168.
引用本文: 郑晓云, 王绍举. SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究[J]. 红外与激光工程, 2014, 43(S1): 164-168.
Zheng Xiaoyun, Wang Shaoju. SRAM-based FPGA SEU simulation system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2014, 43(S1): 164-168.
Citation: Zheng Xiaoyun, Wang Shaoju. SRAM-based FPGA SEU simulation system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2014, 43(S1): 164-168.

SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究

基金项目: 

国家863计划(2012AA121502)

详细信息
    作者简介:

    郑晓云(1987-),女,硕士,主要从事空间电子学方面的研究工作.Email: zxyciomp@163.com

  • 中图分类号: V11

SRAM-based FPGA SEU simulation system

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出版历程
  • 收稿日期:  2014-10-13
  • 修回日期:  2014-11-24
  • 刊出日期:  2015-01-25

SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究

    作者简介:

    郑晓云(1987-),女,硕士,主要从事空间电子学方面的研究工作.Email: zxyciomp@163.com

基金项目:

国家863计划(2012AA121502)

  • 中图分类号: V11

摘要: SRAM 型 FPGA在空间辐照环境下,容易受到单粒子效应的影响,导致 FPGA存储单元发生位翻转,翻转达到一定程度会导致功能错误.为了评估FPGA对单粒子效应的敏感程度和提高FPGA抗单粒子的可靠性,对实现故障注入的关键技术进行了研究,对现有技术进行分析,设计了单粒子翻转效应敏感位测试系统,利用SRAM 型 FPGA部分重配置特性,采用修改FPGA配置区数据位来模拟故障的方法,加速了系统的失效过程,实现对单粒子翻转敏感位的检测和统计,并通过实验进行验证,结果表明:设计合理可行,实现方式灵活,成本低,为SRAM型 FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持.

English Abstract

参考文献 (11)

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