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液相外延HgCdTe薄膜组分均匀性对器件响应光谱的影响

崔宝双,  魏彦锋,  孙权志,  杨建荣

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崔宝双, 魏彦锋, 孙权志, 杨建荣. 液相外延HgCdTe薄膜组分均匀性对器件响应光谱的影响[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(4): 845-849.
引用本文: 崔宝双, 魏彦锋, 孙权志, 杨建荣. 液相外延HgCdTe薄膜组分均匀性对器件响应光谱的影响[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(4): 845-849.
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Cui Baoshuang, Wei Yanfeng, Sun Quanzhi, Yang Jianrong. Effect of composition ununiformity of LPE HgCdTe film on response spectral of device[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(4): 845-849.
Citation: Cui Baoshuang, Wei Yanfeng, Sun Quanzhi, Yang Jianrong. Effect of composition ununiformity of LPE HgCdTe film on response spectral of device[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(4): 845-849.
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液相外延HgCdTe薄膜组分均匀性对器件响应光谱的影响

  • 1.

    中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083

基金项目: 

国家自然科学基金（60876012）

详细信息
    作者简介:

    崔宝双（1987-），女，硕士生，主要从事HgCdTe红外材料与器件特性方面的研究。Email：cbsshuang@gmail.com；魏彦锋（1971-），男，研究员，博士生导师，博士，主要从事红外半导体材料与器件物理方面的研究。Email：yfwei@mail.sitp.ac.cn

    崔宝双（1987-），女，硕士生，主要从事HgCdTe红外材料与器件特性方面的研究。Email：cbsshuang@gmail.com；魏彦锋（1971-），男，研究员，博士生导师，博士，主要从事红外半导体材料与器件物理方面的研究。Email：yfwei@mail.sitp.ac.cn

  • 中图分类号: TN214

Effect of composition ununiformity of LPE HgCdTe film on response spectral of device

  • 1.

    Key Laboratory of Infrared Imaging Materials and Devices,Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China

  • 摘要: 研究了HgCdTe液相外延薄膜的组分均匀性对器件响应光谱的影响。提出了一种计算HgCdTe红外探测器响应光谱的方法，考虑了HgCdTe液相外延薄膜的纵向组分分布和横向组分波动，以及光在器件各层结构中的相干、非相干传输。使用该方法计算了响应光谱的峰值响应率和截止波长液相外延HgCdTe的互扩散区厚度z和组分均方差的变化规律。结果表明：对于一般的HgCdTe外延薄膜，小于0.002，不需要考虑横向组分波动的影响。同时计算了峰值响应率和黑体响应率液相外延HgCdTe的总厚度的变化规律，可以得到最佳的吸收区厚度。
    Abstract: The effect of composition ununiformity of LPE HgCdTe film on spectral response of device was studied. A new method was proposed to calculate the spectral response of HgCdTe IR detector. This method considered longitudinal composition distribution and transverse composition ununiformity in LPE HgCdTe film. The coherent and incoherent light transmission among the device was also included. Using this method, the variation law of peak responsibility of spectral responseand and cutoff wavelength with compositional diffusion width z and transverse composition deviation of LPE HgCdTe film was calculated. The result indicates that for common LPE HgCdTe film, whose is less than 0.002, the influence of transverse composition ununiformity on spectral response can be neglected. The changes of peak responsibility and black body responsibility with thickness of LPE HgCdTe film were also calculated. The optimum thickness can be obtained.
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-08-09
  • 修回日期:  2012-09-09
  • 刊出日期:  2013-04-25

液相外延HgCdTe薄膜组分均匀性对器件响应光谱的影响

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083
    • 作者简介:

    崔宝双（1987-），女，硕士生，主要从事HgCdTe红外材料与器件特性方面的研究。Email：cbsshuang@gmail.com；魏彦锋（1971-），男，研究员，博士生导师，博士，主要从事红外半导体材料与器件物理方面的研究。Email：yfwei@mail.sitp.ac.cn

    崔宝双（1987-），女，硕士生，主要从事HgCdTe红外材料与器件特性方面的研究。Email：cbsshuang@gmail.com；魏彦锋（1971-），男，研究员，博士生导师，博士，主要从事红外半导体材料与器件物理方面的研究。Email：yfwei@mail.sitp.ac.cn

  • 收稿日期: 2012-08-09
  • 修回日期: 2012-09-09
  • 刊出日期: 2013-04-25
基金项目:

国家自然科学基金（60876012）

  • 中图分类号: TN214

摘要: 研究了HgCdTe液相外延薄膜的组分均匀性对器件响应光谱的影响。提出了一种计算HgCdTe红外探测器响应光谱的方法，考虑了HgCdTe液相外延薄膜的纵向组分分布和横向组分波动，以及光在器件各层结构中的相干、非相干传输。使用该方法计算了响应光谱的峰值响应率和截止波长液相外延HgCdTe的互扩散区厚度z和组分均方差的变化规律。结果表明：对于一般的HgCdTe外延薄膜，小于0.002，不需要考虑横向组分波动的影响。同时计算了峰值响应率和黑体响应率液相外延HgCdTe的总厚度的变化规律，可以得到最佳的吸收区厚度。

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