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光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性

苏安 王高峰 蒙成举 唐秀福 高英俊

苏安, 王高峰, 蒙成举, 唐秀福, 高英俊. 光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 620004-0620004(7). doi: 10.3788/IRLA201746.0620004
引用本文: 苏安, 王高峰, 蒙成举, 唐秀福, 高英俊. 光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 620004-0620004(7). doi: 10.3788/IRLA201746.0620004
Su An, Wang Gaofeng, Meng Chengju, Tang Xiufu, Gao Yingjun. Light propagation characteristic of dual defect microcavity of photonic crystal[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 620004-0620004(7). doi: 10.3788/IRLA201746.0620004
Citation: Su An, Wang Gaofeng, Meng Chengju, Tang Xiufu, Gao Yingjun. Light propagation characteristic of dual defect microcavity of photonic crystal[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 620004-0620004(7). doi: 10.3788/IRLA201746.0620004

光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性

doi: 10.3788/IRLA201746.0620004
基金项目: 

国家自然科学基金(51161003);广西高校科学技术研究项目(KY2015YB258,KY2016LX287);国家级、广西区级大学生创新训练计划项目(201610605011,201610605056)

详细信息
    作者简介:

    苏安(1973-),男,教授,硕士,主要从事光电材料与器件方面的研究。Email:suan3283395@163.com

  • 中图分类号: O431;O483;O734

Light propagation characteristic of dual defect microcavity of photonic crystal

  • 摘要: 构造和研究了光子晶体插入式二元缺陷和替代式二元缺陷微腔的光学传输特性,结果表明:随着二元缺陷自身周期数增大,微腔透射谱中分立缺陷模的数目增加,且替代式二元缺陷微腔分立缺陷模多于插入式二元缺陷微腔;随着缺陷高折射率介质厚度的增大,二元缺陷微腔的缺陷模向中间靠拢呈现简并趋势,同时禁带两侧出现多组双缺陷模,且高频一侧出现双缺陷模多于低频一侧,但替代式二元缺陷微腔出现的双缺陷模数目多于插入式二元缺陷微腔;随着缺陷低折射率介质厚度增大,插入式二元缺陷微腔的缺陷模向低频方向移动同时呈现耦合分开趋势,且透射率逐渐降低,而替代式二元缺陷微腔的缺陷模则向中间靠拢呈现简并趋势,同时缺陷模整体向高频方向缓慢移动,而透射率保持100%不变。光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性为光学滤波器、光学开关和激光器等的设计提供了参考。
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-10-05
  • 修回日期:  2016-11-03
  • 刊出日期:  2017-06-25

光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性

doi: 10.3788/IRLA201746.0620004
    作者简介:

    苏安(1973-),男,教授,硕士,主要从事光电材料与器件方面的研究。Email:suan3283395@163.com

基金项目:

国家自然科学基金(51161003);广西高校科学技术研究项目(KY2015YB258,KY2016LX287);国家级、广西区级大学生创新训练计划项目(201610605011,201610605056)

  • 中图分类号: O431;O483;O734

摘要: 构造和研究了光子晶体插入式二元缺陷和替代式二元缺陷微腔的光学传输特性,结果表明:随着二元缺陷自身周期数增大,微腔透射谱中分立缺陷模的数目增加,且替代式二元缺陷微腔分立缺陷模多于插入式二元缺陷微腔;随着缺陷高折射率介质厚度的增大,二元缺陷微腔的缺陷模向中间靠拢呈现简并趋势,同时禁带两侧出现多组双缺陷模,且高频一侧出现双缺陷模多于低频一侧,但替代式二元缺陷微腔出现的双缺陷模数目多于插入式二元缺陷微腔;随着缺陷低折射率介质厚度增大,插入式二元缺陷微腔的缺陷模向低频方向移动同时呈现耦合分开趋势,且透射率逐渐降低,而替代式二元缺陷微腔的缺陷模则向中间靠拢呈现简并趋势,同时缺陷模整体向高频方向缓慢移动,而透射率保持100%不变。光子晶体二元缺陷微腔的光传输特性为光学滤波器、光学开关和激光器等的设计提供了参考。

English Abstract

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