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用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化

车兴森 侯立飞 杨轶濛 杜华冰 杨国洪 韦敏习

车兴森, 侯立飞, 杨轶濛, 杜华冰, 杨国洪, 韦敏习. 用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(10): 1017008-1017008(5). doi: 10.3788/IRLA201776.1017008
引用本文: 车兴森, 侯立飞, 杨轶濛, 杜华冰, 杨国洪, 韦敏习. 用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(10): 1017008-1017008(5). doi: 10.3788/IRLA201776.1017008
Che Xingsen, Hou Lifei, Yang Yimeng, Du Huabing, Yang Guohong, Wei Minxi. Parameter optimization of compound filters applied for flat-response X-ray detectors[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(10): 1017008-1017008(5). doi: 10.3788/IRLA201776.1017008
Citation: Che Xingsen, Hou Lifei, Yang Yimeng, Du Huabing, Yang Guohong, Wei Minxi. Parameter optimization of compound filters applied for flat-response X-ray detectors[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(10): 1017008-1017008(5). doi: 10.3788/IRLA201776.1017008

用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化

doi: 10.3788/IRLA201776.1017008
基金项目: 

国家自然科学基金青年基金(11505168);国家重点研发计划(2017YFA0403300)

详细信息
    作者简介:

    车兴森(1986-),男,助理研究员,博士,主要从事激光聚变辐射X射线诊断方面的研究。Email:chexingsen@163.com

  • 中图分类号: TN65

Parameter optimization of compound filters applied for flat-response X-ray detectors

  • 摘要: 在间接驱动的激光惯性约束聚变实验中,激光辐照产生的X射线能流的测量非常重要,它可以推测出黑腔的辐射温度和激光腔靶的耦合效率,一般通过平响应X射线探测器得到不同角分布的辐射流数据。通过对平响应复合滤片的结构参数进行优化设计,提高了平响应X射线探测器的测量精度。研究了复合滤片中薄金层、厚金层和孔面积比等结构参数对X射线探测器响应平整度的影响规律。从实验结果中可以得出:滤片和金阴极的标定数据和理论结果基本一致,并且薄金层的厚度对探测器整体响应的平整度起到主要作用,厚金层厚度和孔面积比影响较小,优化后探测器的平响应度达到5%,与理论设计相一致,此时的薄金层厚度、厚金层厚度和孔面积比分别为50 nm、380 nm和1:6.1。
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-02-08
  • 修回日期:  2017-03-11
  • 刊出日期:  2017-10-25

用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化

doi: 10.3788/IRLA201776.1017008
    作者简介:

    车兴森(1986-),男,助理研究员,博士,主要从事激光聚变辐射X射线诊断方面的研究。Email:chexingsen@163.com

基金项目:

国家自然科学基金青年基金(11505168);国家重点研发计划(2017YFA0403300)

  • 中图分类号: TN65

摘要: 在间接驱动的激光惯性约束聚变实验中,激光辐照产生的X射线能流的测量非常重要,它可以推测出黑腔的辐射温度和激光腔靶的耦合效率,一般通过平响应X射线探测器得到不同角分布的辐射流数据。通过对平响应复合滤片的结构参数进行优化设计,提高了平响应X射线探测器的测量精度。研究了复合滤片中薄金层、厚金层和孔面积比等结构参数对X射线探测器响应平整度的影响规律。从实验结果中可以得出:滤片和金阴极的标定数据和理论结果基本一致,并且薄金层的厚度对探测器整体响应的平整度起到主要作用,厚金层厚度和孔面积比影响较小,优化后探测器的平响应度达到5%,与理论设计相一致,此时的薄金层厚度、厚金层厚度和孔面积比分别为50 nm、380 nm和1:6.1。

English Abstract

参考文献 (15)

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