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公式(2)中计算光程差时测试光线垂直于待测件,而在白光显微干涉术中,采用的干涉显微物镜通常具有一定的NA。图3(a)所示为Mirau型干涉物镜的孔径角情况,参考板位置的参考面是照明和成像系统中的中心遮拦。因此,有效的NA为环型会聚的光束,参与干涉成像的光束孔径角范围为γ~θ。图3(b)画出了入射角为α的光线的干涉情况,将参考面经过分光镜镜像至待测面附近做分析,假定待测面面和参考面的高度差为H,则参考光线和测试光线的光程差δ为:
公式(9)表明,对于干涉显微物镜中有效NA范围内参与成像的各个入射角度光线,其光程差与光线入射角度余弦呈线性关系。进一步地,干涉显微物镜作用下的光程差是有效孔径内光程差的积分,小于垂直高度差,导致干涉条纹展宽。
上述现象称为干涉显微物镜的NA效应[12-14],可以定义系数C1(<1)表征其对光程的影响。干涉显微物镜主要有3种类型,文中以Mirau型干涉显微物镜为例,Michelson型和Linnik型干涉显微物镜的工作模式与之类似。NA效应在高倍率干涉显微物镜上较为显著,Mirau型物镜由于存在中心遮拦,其作用最为复杂。有相关文献讨论了C1的数学表达形式[12-14],但干涉显微物镜有效NA范围的名义值与实际值存在偏差,通过实验测量获得C1是一种较为有效的手段[13-14]。此外,PZT也存在误差,导致实际步进量σ′偏离名义步进量σ,定义C2为PZT位移的误差系数,则公式(2)可以被修正为:
分析在NA效应和移相器误差的双重作用下,计算形貌的公式(8)存在的误差情况。定义Zc′为存在移相误差情况下按照公式(4)计算得到的粗略形貌,分析其与真实粗略形貌Zc的关系。公式(4)中粗略形貌Zc的求解是计算对比度最佳采样幅数k,再与垂直扫描步长为σ相乘,中间未涉及到光程差的计算,所以Zc的求解与NA效应的影响无关。因而有:
求解粗略形貌Zc主要的误差源为PZT位移误差,即名义步进量σ=λ0/8,但实际步进量是其C2倍。比较公式(4)和(11),尽管扫描步长发生了变化,粗略形貌的求解方式仍然一样,这与常规垂直扫描方式可以变换步长的效果是等效的。也即是只要知道实际的扫描步长,均能准确获得粗略形貌高度。这也与常规垂直扫描求解表面形貌不需要考虑干涉显微物镜的NA相吻合。
精细形貌Zf的求解是通过移相算法求解相位,再转换为光程差,再换成形貌高度。其中需要考虑NA效应的影响因子C1。公式(7)中定义了相位
$\phi $ ,定义NA作用下的综合相位$\tilde \phi $ ,则满足$\tilde \phi = {C_1}\phi $ 。定义$\phi '$ 为移相算法计算获取的相位。相应的,按照公式 (7)计算精细形貌Zf′的表达式为:单独讨论PSI算法,移相量从π/2变为Cπ/2(C=C1C2)的作用,公式(12)的相位计算存在误差,接下来分析计算获得的相位
$\phi '$ 的形式特征。将移相误差对光程差的影响公式(10)引入到白光显微干涉光强的表达式(1)中,即可得到各幅垂直扫描移相干涉图的干涉光强。然后根据公式(5)和(6)即可计算分析7幅法和4M幅法各自的复原相位情况。尽管已知单色光干涉时,7幅法对移相误差不敏感,但此处PSI算法的应用场景为复色光。因为基于理论公式的推导过程较为复杂,文中采用数值模拟的方式分析计算相位复原的情况。PSI算法的测试对象是高度小于λ0/4的台阶,所以数值模拟计算的设置参数如表1所示。
H/nm λ0/nm Δλ/nm γ C σ/nm 100 560 200 1 0.8-1.2 70 Table 1. Parameters for simulation analysis of PSI algorithms
以高度100 nm的台阶为测试对象,高度数据和相位数据的转换不考虑NA效应,所以输入的直接是综合相位
$\tilde \phi $ ,图4(a)为台阶一维轮廓分布;图4(b)为某幅中间位置的扫描干涉图,其中有载频条纹,探测器的量化选用10 byte;图4(c)和(d)分别为7幅法复原的台阶一维轮廓及复原误差;图4(e)和(f)为4M幅法复原的台阶一维轮廓及复原误差。Figure 4. Step profile measurement utilizing the PSI algorithms. (a) Step with 100 nm height; (b) Interferogram; (c) Measured profile utilizing 7-frame algorithm; (d) Measured error utilizing 7-frame algorithm; (e) Measured profile utilizing 4M-frame algorithm; (f) Measured error utilizing 4M-frame algorithm
根据图4(d)显示的数据,当实际扫描步进量分别为名义值λ0/8的0.8、0.9、1.0、1.1、1.2倍时,采用7幅法复原台阶高度的计算误差非常小,分别偏差2.33、2.43、2.16、1.56、0.60 nm,图4(c)中7幅法复原的台阶高度与名义值100 nm十分接近,在宽带光条件下,7幅法仍然对移相误差不敏感,即
$\phi '{\text{ = }}\tilde \phi $ 。图4(e)中,4M 幅法复原的台阶形貌与图4(a)的原始形貌相比做了整体的缩放或拉伸,复原的台阶高度分别为125.06、111.11、100、90.91、83.36 nm,分别是名义高度值100 nm的1/0.8、1/0.9、1/1、1/1.1、1/1.2倍。也即是当存在移相误差时,4M算法复原出的相位结果是名义相位的1/C倍,即$\phi '{\text{ = }}\dfrac{{\tilde \phi }}{C}$ 。因此,面向NA效应(C1)和移相器误差(C2)两种移相误差的影响,7幅法和4M幅法各自计算的精细形貌为:
继而,考虑公式(11)中求解获得的粗略形貌Zc′和实际粗略形貌Zc的关系,待复原的表面形貌Z与求解获得的形貌的关系式为:
因此,采用垂直扫描移相计算微观形貌,首先要求移相器位移准确,移相器误差将影响形貌复原结果。采用7幅法计算精细形貌,尽管相位计算时其对移相误差不敏感,但物镜的NA效应需要被纳入考虑;而采用4M法的精细相位误差形式恰好与物镜的NA效应对条纹展宽的影响相一致,在从精细相位转换为精细形貌时相互抵消。准确计算物镜NA效应的影响因子C1比较困难,因而公式(15)中采用7幅法计算求解微观形貌比较难以实现。采用4M法计算求解微观形貌,物镜NA效应的影响因子C1没有影响,移相器误差C2对于粗略形貌和精细形貌的影响相同,可以通过测量已知高度的标准台阶,比较测量高度和标准高度,完成对C2的标定。综上,采用基于对比度变化重心提取的VSI算法和4M幅PSI算法计算形貌数据,无需在移相量设置时考虑引入物镜NA的影响,只要精确知道PZT的扫描步进量,即可准确地复原形貌数据。
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为了验证所提方法对垂直扫描移相误差的校正能力,采用校准高度为(459.8±3.0) nm的标准台阶板(BKUKER, S/N1612-270)作为样品, 在自研的白光显微干涉仪上进行测试。采用闭环伸长量250 μm,闭环线性度0.03%的PZT(PI, P-725),搭载数个倍率的干涉显微物镜进行测量。台阶板样品信息如图5所示。
5倍干涉显微物镜的NA为0.1,NA效应的较小,认为此时C1=1。为了确定低相干垂直扫描干涉测量的中心波长λ0,先假定一个初始值,并据此设定扫描步长为λ0/8,采集垂直扫描移相低相干干涉图序列,提取在最大对比度位置附近相邻的8幅干涉图,用7幅算法分别计算前7幅图和后7幅图的相位,再计算二者相位差,根据相位差偏离π/2的情况修正假定的λ0值,最终确立λ0为550 nm,相应的扫描步长为68.75 nm。
为了引入NA效应的影响,更换采用20倍干涉显微物镜,其NA为0.4,NA效应的影响因子C1<1。如仍以扫描步长68.75 nm进行垂直扫描移相采图,则受NA效应的影响,移相量偏离π/2。按照前述采集相邻两组7幅图计算相位差的方式,实验调试得到C1=1.043,即扫描步长为71.71 nm对应π/2移相量。但为了仿真实验的真实情况,不对NA效应进行校正,并且为了进一步引入PZT误差,人为设置扫描步长偏离λ0/8。如表2所示,实际的扫描步长σ′均偏离了71.71 nm,相当于既有NA效应的影响因子C1,又有PZT误差的影响因子C2。需要说明的是,由于实验采用的PZT闭环控制时线性度较好,实际的扫描步长是已知的,将其代入到公式(15)中计算形貌分布,然后对台阶形貌上所有水平方向轮廓曲线分别计算台阶高度再求平均值得到每次测量的台阶高度数据。从一根水平轮廓线上提取台阶高度的计算依据ISO5436-1:2000规定的W/3方法。表2给出了不同的扫描步进量,VSI算法采用基于对比度变化的重心提取法,PSI算法分别采用4M幅法和7幅法两种PSI算法,计算得到的台阶高度数据H′。图6给出了在扫描步长为λ0/8条件下的台阶形貌和中间位置的一维轮廓曲线。
σ′ H′ 4M-frame method/nm 7-frame method/nm 0.9×λ0/8 459.2 455.8 0.95×λ0/8 458.8 454.4 1×λ0/8 460.4 454.7 1.05×λ0/8 459.6 453.3 1.1×λ0/8 459.4 453.9 Table 2. Calculation results of step height with different scanning interval
Figure 6. Calculated topography of the step height standard using 20× interferometric microscopy (4M-frame method)
更换采用50倍干涉显微物镜,其NA为0.55,NA效应的影响因子更小。仍然采用λ0/8扫描步长,此时相当于仍未对NA效应引入的移相误差做校正,也即是移相量进一步偏离π/2。计算得到的形貌数据如图7所示,仍可准确地复原台阶高度。
Figure 7. Calculated topography of the step height standard using 50× interferometric microscopy (4M-frame method)
因而,此次实验分别采用20倍和50倍干涉显微镜检测了校准台阶高度为(459.8±3.0) nm的标准台阶板。采用λ0/8扫描步长时,没有考虑到NA效应对于移相量偏离π/2的影响,但采用基于对比度变化重心提取的VSI算法和4M幅PSI算法计算形貌数据,形貌复原结构仍然十分准确。此外,人为设置扫描步长偏离λ0/8,但只要准确知晓PZT实际的步长,也可以准确复原形貌。因此,对于PZT误差的影响,可以通过检测已知高度的台阶,对PZT的线性度进行标定,从而准确得到PZT的实际移动量。
Calibration method of the phase-shifting error for the topography measurement utilizing white light interferometric microscopy
doi: 10.3788/IRLA20220050
- Received Date: 2021-11-20
- Rev Recd Date: 2022-01-10
- Accepted Date: 2022-03-25
- Available Online: 2022-08-13
- Publish Date: 2022-08-05
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Key words:
- phase-shifting error /
- step /
- topography measurement /
- white light interferometric microscopy
Abstract: Sequence of low coherence interferograms were captured during the vertical scanning of the interferometric microscope in the measurement procedure of the white light interferometric microscopy, and thus the topography of the surface under test was retrieved through determining the locations where the optical path difference (OPD) was zero in the envelope of the correlogram. The calculations of the topography for the micro-structures were composed of the vertical scanning interferometric (VSI) algorithm determining the coarse map and the phase-shifting interferometric (PSI) algorithm retrieving the fine map. Usually, the vertical scanning step was set as one eighth of the central wavelength, but the phase-shifting departures from π/2 inevitably due to the phase shifter error as well as the numerical aperture (NA) effect of the interferometric microscope. In this manuscript, the center-of-gravity solving of the visibility curves was adopted as VSI algorithm, and the 4M-frame method as well as the 7-frame method were both utilized as PSI algorithm respectively. The effect of the phase-shifting error on the topography measurement adopting the three above mentioned methods was discussed. Both theoretical derivations and simulation analysis demonstrate that the 7-frame method was insensitive to phase-shifting errors even under the low coherence illuminations. The fine phase error induced by phase-shifting error utilizing the 4M-frame method was by lucky coincides the form of the NA effect increasing the fringe spacing, and they were cancelled out during the transform from the fine phase to the topography. Therefore, adopting the center-of-gravity method as VSI algorithm and the 4M-frame method as the PSI algorithm, the phase-shifting errors arising from NA effect can be ignored, and the topography can be calibrated confronting the phase shifter error through measuring a certificated step standard in advance. A step height of 460 nm was measured utilizing the proposed method, and the topography demonstrate that it was both accurate and robustness.