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文中选取12只830 nm F-mount的单管器件作为研究对象。器件实拍图如图4所示。器件在温度22 ℃下工作,额定工作电流为0.9 A,额定输出功率为1 W。
文中自主搭建了大功率半导体激光器单管老化测试平台,如图5所示。平台包括12组器件夹具、Ophir NovaⅡ光功率计、可编程直流电源、可编程步进电机驱动的丝杆滑台、恒温循环冷水机、计算机。该平台集成了控制、监测、试验功能于一体,试验器件功率由PC控制步进电机带动的功率计监测并保存在计算机中[26]。应力设定为温度与电流,并根据单管LIV曲线,温度取22 ℃,42 ℃和62 ℃,电流取1.4 A与1.8 A,两应力条件交叉步进,共组成四种不同的应力条件:A[22 ℃,1.4 A],B[42 ℃,1.4 A],C[42 ℃,1.8 A],D[62 ℃,1.8 A]。在试验中记录全部的光输出功率数据及其对应的应力条件,见表1,器件编号从1#~12#,光输出功率每间隔100 h记录一次,单位W。
Stress condition Time/h 1# 2# 3# 4# 5# 6# 7# 8# 9# 10# 11# 12# A[22 ℃,1.4 A] 100 1.43 1.38 1.39 1.41 1.41 1.40 1.36 1.42 1.44 1.36 1.45 1.39 200 1.42 1.38 1.40 1.40 1.40 1.38 1.37 1.43 1.42 1.36 1.44 1.37 300 1.39 1.37 1.37 1.39 1.38 1.35 1.41 1.39 1.39 1.34 1.43 1.34 400 1.40 1.33 1.35 1.40 1.40 1.34 1.34 1.40 1.37 1.35 1.40 1.34 B[42 ℃,1.4 A] 500 1.36 1.33 1.33 1.37 1.38 1.30 1.29 1.36 1.31 1.31 1.36 1.29 600 1.32 1.30 1.29 1.34 1.32 1.27 1.32 1.33 1.28 1.28 1.36 1.31 700 1.28 1.30 1.31 1.34 1.34 1.27 1.29 1.31 1.30 1.27 1.35 1.25 800 1.30 1.29 1.30 1.33 1.30 1.26 1.25 1.30 1.29 1.23 1.31 1.26 C[42 ℃,1.8 A] 900 1.62 1.63 1.62 1.70 1.69 1.64 1.69 1.72 1.70 1.60 1.69 1.69 1000 1.57 1.60 1.59 1.65 1.65 1.60 1.67 1.65 1.68 1.57 1.67 1.69 1100 1.55 1.58 1.50 1.64 1.60 1.57 1.62 1.61 1.61 1.53 1.60 1.63 1200 1.50 1.51 1.52 1.58 1.58 1.50 1.56 1.62 1.57 1.54 1.60 1.56 D[62 ℃,1.8 A] 1300 1.39 1.44 1.43 1.50 1.45 1.39 1.52 1.50 1.47 1.40 1.49 1.42 1400 1.35 1.37 1.38 1.44 1.41 1.33 1.45 1.44 1.40 1.35 1.45 1.41 1500 1.27 1.34 1.33 1.41 1.34 1.31 1.43 1.41 1.35 1.32 1.36 1.35 1600 1.26 1.28 1.27 1.36 1.26 1.25 1.38 1.39 1.29 1.30 1.30 1.30 Table 1. Accelerated degradation test data of 830 nm F-mount single-emitter devices under different stress conditions (optical output power/W)
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如图6所示,经过1600 h试验后,得到了12只不同器件的实际性能退化数据
$R\left( t \right)$ ,$R\left( t \right)$ 与理论性能退化曲线$P\left( t \right)$ 存在一定误差。为了使理论与实际曲线的程度拟合最大,需要使误差最小化。利用非线性最小二乘拟合,可以得到理论性能退化曲线$P\left( t \right)$ ,即求得实际退化数据$R\left( t \right)$ 与理论退化曲线$P\left( t \right)$ 之差的平方和最小时${\;\beta _{i,j}}$ 的取值。由此可以得到
$ \;{\beta }_{i,j} $ 的点估计值,如表2所示。$\; {\beta }_{i,j} $ 随着应力条件的增大而增大,其物理意义是应力条件越高,退化的速度越快。根据公式(1),文中进行双应力交叉步进条件下的加速退化试验共计1600 h,从光输出功率退化量可以反推出[22 ℃ ,1.4 A]条件下需要的退化时间。可以计算得出,四种条件下总计1600 h的加速试验相当于约3783 h在[22 ℃ ,1.4 A]的条件下的恒定应力加速试验。若按照传统的恒定电流加速寿命试验并外推器件的寿命预测方法,则至少需要在试验中设置除[22 ℃,1.4 A]条件以外的两组以上其他条件下的加速试验,相当于节约了大于57.7%的试验时间。Laser
diode IDβ22 ℃,1.4 A β42 ℃,1.4 A β42 ℃,1.8 A β62 ℃,1.8 A 1 $ 9.152\times {10}^{-5} $ $ 1.358\times {10}^{-4} $ $ 2.711\times {10}^{-4} $ $ 3.674\times {10}^{-4} $ 2 $ 9.245\times {10}^{-5} $ $ 1.367\times {10}^{-4} $ $ 2.613\times {10}^{-4} $ $ 3.624\times {10}^{-4} $ 3 $ 8.167\times {10}^{-5} $ $ 1.251\times {10}^{-4} $ $ 2.420\times {10}^{-4} $ $ 3.635\times {10}^{-4} $ 4 $ 8.321\times {10}^{-5} $ $ 1.242\times {10}^{-4} $ $ 2.338\times {10}^{-4} $ $ 3.137\times {10}^{-4} $ 5 $ 8.905\times {10}^{-5} $ $ 1.337\times {10}^{-4} $ $ 2.566\times {10}^{-4} $ $ 3.893\times {10}^{-4} $ 6 $ 9.458\times {10}^{-5} $ $ 1.415\times {10}^{-4} $ $ 2.805\times {10}^{-4} $ $ 3.684\times {10}^{-4} $ 7 $ 7.345\times {10}^{-5} $ $ 1.097\times {10}^{-4} $ $ 2.089\times {10}^{-4} $ $ 3.259\times {10}^{-4} $ 8 $ 7.563\times {10}^{-5} $ $ 1.124\times {10}^{-4} $ $ 2.073\times {10}^{-4} $ $ 3.126\times {10}^{-4} $ 9 $ 9.011\times {10}^{-5} $ $ 1.344\times {10}^{-4} $ $ 2.569\times {10}^{-4} $ $ 3.698\times {10}^{-4} $ 10 $ 8.583\times {10}^{-5} $ $ 1.261\times {10}^{-4} $ $ 2.372\times {10}^{-4} $ $ 3.521\times {10}^{-4} $ 11 $ 9.774\times {10}^{-5} $ $ 1.440\times {10}^{-4} $ $ 2.719\times {10}^{-4} $ $ 3.973\times {10}^{-4} $ 12 $ 9.804\times {10}^{-5} $ $ 1.464\times {10}^{-4} $ $ 2.878\times {10}^{-4} $ $ 3.868\times {10}^{-4} $ Table 2. Degradation rate of each laser diode at each stress condition
为了验证加速模型公式(7)中电流与温度是否存在交互作用,需要检验由样本得到的交互作用项参数
$ d $ 的显著性。只要取两组模型参数(管1和管2共八个退化率数据)进行假设检验,根据统计决策的结果认为存在或不存在交互作用。根据加速退化模型公式(9)作线性方程组进行最小二乘估计得到12组模型参数估计值$ \hat{a},\hat{b},\hat{c},\hat{d} $ ,那么线性方程组可表示为:式中:
$ A $ 为由加速模型组成的系数矩阵;$ b $ 为加速寿命的对数组成的列矩阵,则$x={[\hat{a},\hat{b},\hat{c},\hat{d}]}^{\rm T}$ 的最小二乘估计具体的矩阵计算形式如下:依照上述参数估计方法,得到
$ \hat{a},\hat{b},\hat{c},\hat{d} $ ,如表3所示。$ a $ $ b $ $ c $ $ d $ 4.40 1 830 −1.66 −3.36 Table 3. Parameters of the accelerated degradation model obtained by taking two sets of single-emitter 1 and single-emitter 2 (a total of 8 degradation rate data)
其中广义艾琳模型默认电流、温度应力是交互作用的,即两个变量非独立。需要对交互作用项的存在进行假设检验以确保模型没有多余的变量存在,防止模型出现过拟合。
假设
那么统计量
${{t}}$ 的表达式为:式中:
$ q $ 为自变量个数,在这里取3;$ 2 l $ 代表不同应力水平下的方程个数,取8;$ {s}_{\widehat{d}} $ 为回归系数$ \widehat{d} $ 的抽样分布的标准差。给定显著性水平0.1,查
$t$ 分布表得到$t{\left( {2 l - q - 1} \right)_{0.05}} = 2.131\;8$ 。由$\left| {{t}} \right| = 0.238\;7 < 2.131\;8$ ,所以接受假设${H_0}$ 。因此,模型假设无交互作用项成立。于是加速模型公式(5)改写为:将表2中的
$\; {\beta _{i,j}} $ 代入公式(8)可以求得${\varepsilon _{i,j}}$ 。根据加速退化模型作线性方程组最小二乘估计得到12组模型参数的估计值$\hat a,\hat b,\hat c$ ,如表4所示。Laser diode ID a b c ε22 ℃,0.9 A/h 1 4.01 1 833 −1.73 5805 2 3.90 1 816 −1.62 5420 3 3.51 1 981 −1.65 6249 4 3.80 1 862 −1.58 5942 5 3.73 1 880 −1.63 5630 6 3.81 1 873 −1.71 5542 7 3.95 1 865 −1.61 6789 8 3.89 1 841 −1.53 6334 9 3.79 1 856 −1.62 5561 10 4.02 1 786 −1.58 5722 11 3.85 1 799 −1.59 5001 12 3.81 1 853 −1.69 5273 Table 4. Accelerated degradation model parameters corresponding to each laser diode and extrapolated lifetime
确定加速模型后,将光输出功率下降为初始光功率的80%定为失效标准,将它和标准工作应力条件[22 ℃,0.9 A]代入公式(2)可以得到12只器件的预测寿命
$\varepsilon $ ,如上表所示。由$\varepsilon \sim {{W}}\left( {{{m}},{\textit{η }}} \right)$ ,将威布尔分布函数等式移项后两边同时求对数,利用直线最小二乘估计法求得形状参数${{m}}$ 和尺度参数${\textit{η }}$ 。由公式(6)得到:这样就将威布尔分布函数改写成了关于(
${\rm ln}t$ ,${\rm lnln}{\left[ {1 - F\left( t \right)} \right]^{ - 1}}$ )的一次函数。根据上式进行直线最小二乘法拟合,如图7(a)所示,求得斜率即形状参数m=11.68,再利用截距求得尺度参数η=5994 h。基于威布尔分布的失效分布函数标准形式如图7(b)所示。根据威布尔分布函数的性质,失效率为50%时所对应的时间$t$ 即为MTTF,计算结果为5811 h。 -
如表5所示,不考虑交互作用项,文中使用12个单管器件在A[22 ℃,1.4 A],B[42 ℃,1.4 A],C[42 ℃,1.8 A]三种应力条件下的性能退化数据拟合模型后,计算D[62 ℃,1.8 A]条件下的退化率βtest,并与真实退化率β62 ℃,1.8 A进行对比。误差均在10%以下,说明了文中建立模型的准确性。
Laser diode ID β62 ℃,1.8 A βtest Error 1 $ 3.674\times 1{0}^{-4} $ $ 3.837\times 1{0}^{-4} $ $ 4.44\text{%} $ 2 $ 3.624\times 1{0}^{-4} $ $ 3.686\times 1{0}^{-4} $ $ 1.02\text{%} $ 3 $ 3.635\times 1{0}^{-4} $ $ 3.522\times 1{0}^{-4} $ $ 3.11\text{%} $ 4 $ 3.137\times 1{0}^{-4} $ $ 3.328\times 1{0}^{-4} $ $ 6.09\text{%} $ 5 $ 3.893\times 1{0}^{-4} $ $ 3.657\times 1{0}^{-4} $ $ 6.09\text{%} $ 6 $ 3.684\times 1{0}^{-4} $ $ 4.001\times 1{0}^{-4} $ $ 8.60\text{%} $ 7 $ 3.259\times 1{0}^{-4} $ $ 2.975\times 1{0}^{-4} $ $ 8.71\text{%} $ 8 $ 3.126\times 1{0}^{-4} $ $ 2.939\times 1{0}^{-4} $ $ 5.98\text{%} $ 9 $ 3.698\times 1{0}^{-4} $ $ 3.651\times 1{0}^{-4} $ $ 1.27\text{%} $ 10 $ 3.521\times 1{0}^{-4} $ $ 3.327\times 1{0}^{-4} $ $ 5.51\text{%} $ 11 $ 3.973\times 1{0}^{-4} $ $ 3.824\times 1{0}^{-4} $ $ 3.75\text{%} $ 12 $ 3.868\times 1{0}^{-4} $ $ 4.097\times 1{0}^{-4} $ $ 5.92\text{%} $ Table 5. Comparison of the theoretical degradation rate βtest calculated by the model with the actual degradation rate β62 ℃,1.8 A
Lifetime prediction method for high-power laser diodes under double-stress cross-step accelerated degradation test
doi: 10.3788/IRLA20220592
- Received Date: 2022-08-17
- Rev Recd Date: 2022-11-16
- Publish Date: 2023-05-25
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Key words:
- high-power laser diodes /
- accelerated degradation test /
- double-stress /
- lifetime
Abstract: