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激光全息法检测固体药柱包覆层缺陷

王东生 马兆光 王维明

王东生, 马兆光, 王维明. 激光全息法检测固体药柱包覆层缺陷[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(2): 376-380.
引用本文: 王东生, 马兆光, 王维明. 激光全息法检测固体药柱包覆层缺陷[J]. 红外与激光工程, 2013, 42(2): 376-380.
Wang Dongsheng, Ma Zhaoguang, Wang Weiming. Testing of defect for solid grain coating by laser holographic interferometry[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(2): 376-380.
Citation: Wang Dongsheng, Ma Zhaoguang, Wang Weiming. Testing of defect for solid grain coating by laser holographic interferometry[J]. Infrared and Laser Engineering, 2013, 42(2): 376-380.

激光全息法检测固体药柱包覆层缺陷

基金项目: 

中国航天科技集团横向合作项目(2010-082-3L)

详细信息
    作者简介:

    王东生(1970- ),男,副教授,博士,主要从事薄膜物理方面的研究工作。Email:wdsnju@sina.com

  • 中图分类号: O438.1;TN249

Testing of defect for solid grain coating by laser holographic interferometry

  • 摘要: 随着航天火箭技术的迅速发展,如何检测具有较厚(大于4 mm)包覆层药柱的内部小尺寸(小于8 mm)缺陷成为一个需要解决的关键问题。基于光干涉原理,采用激光全息无损检测方法测量了不同包覆层厚度药柱内部小尺寸缺陷的全息图谱,确定了包覆层厚度以及缺陷尺寸对药柱形变的影响。结果发现当包覆层厚度为6 mm时,能够检测的缺陷临界尺寸为2 mm。如果缺陷尺寸小于2 mm,则无法获得清晰的干涉条纹。同时利用获得的全息图谱计算了2~6 mm包覆层药柱缺陷尺寸的实际大小,误差平均值结果小于5%。最终结果表明:用激光全息法检测包覆层厚度大于4 mm、包覆层脱粘缺陷小于8 mm的药柱是一种准确、有效的无损检测手段。
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-06-22
  • 修回日期:  2012-07-19
  • 刊出日期:  2013-02-25

激光全息法检测固体药柱包覆层缺陷

    作者简介:

    王东生(1970- ),男,副教授,博士,主要从事薄膜物理方面的研究工作。Email:wdsnju@sina.com

基金项目:

中国航天科技集团横向合作项目(2010-082-3L)

  • 中图分类号: O438.1;TN249

摘要: 随着航天火箭技术的迅速发展,如何检测具有较厚(大于4 mm)包覆层药柱的内部小尺寸(小于8 mm)缺陷成为一个需要解决的关键问题。基于光干涉原理,采用激光全息无损检测方法测量了不同包覆层厚度药柱内部小尺寸缺陷的全息图谱,确定了包覆层厚度以及缺陷尺寸对药柱形变的影响。结果发现当包覆层厚度为6 mm时,能够检测的缺陷临界尺寸为2 mm。如果缺陷尺寸小于2 mm,则无法获得清晰的干涉条纹。同时利用获得的全息图谱计算了2~6 mm包覆层药柱缺陷尺寸的实际大小,误差平均值结果小于5%。最终结果表明:用激光全息法检测包覆层厚度大于4 mm、包覆层脱粘缺陷小于8 mm的药柱是一种准确、有效的无损检测手段。

English Abstract

参考文献 (33)

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